天瑞测厚仪量大从优「在线咨询」

2019-11-11 02:10:39
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    江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

    X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X神仙区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱,短波边以伽马射线为界,长波边与真空紫外线区域的实际界线。

    X射线荧光光谱仪特点

    1、一种真正意义上 的无损分析,在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。

    2、分析速度快,无须进行样品预处理,升值无须样品的制备,X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。

    3、自动化程度高。

    4、可以同时测定样品中的多种元素。

    5、随着分析技术的发展,仪器可以满足很多行业的需求。如:地质矿产,冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。

    6、样品的形态广。

    7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。

    8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。













    江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名专家通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。江苏一六仪器X荧光光谱测厚仪特点快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

    先进的技术,专业的团队,严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。











    江苏一六仪器  专业涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

    单镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

    双镀层:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

    三镀层:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

    一、功能

    1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足

    GB/T 16921-2005 标准(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。

    2.  镀层层数:多至 5 层。

    3. 测量点尺寸:圆形测量点,直径约 0.2—0.8毫米。

    4. 测量时间:通常 30 秒。

    5. 测量误差:通常小于 5%,视样品具体情况而定。

    6. 可测厚度范围:通常 0.01 微米到 30 微米,视样品组成和镀层结构而定。











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