FE3000设备品牌企业-大塚电子

楼主:大塚电子  时间:2020-02-17 11:28:11
冲榜 守护 脱水 打赏 看楼主 设置

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。

产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。

FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目:量子效率测定,量子效率的激发波长依赖特性,发光光谱、反射光谱测定,透过、吸收光谱测量,PL激发光谱,颜色演算(色度、色温、演色性等)利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。

解析非线性最i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/最适化法

基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式

绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性

3D显示功能(面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图)

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。

半积分球。大塚电子独有专利,提高积分球测试效率一倍,更易于样品的装夹,切换迅速(世界范围内独i家);(2)多次激发修正。大塚电子独有专利,最i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提高明显(世界范围内独i家);(3)光谱可扩展, 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统(-30℃-300℃)

不锈钢样品池及高精度石英材质光学窗口,光学透过率大于98%,全波段无荧光反应,用于固体、粉末及薄膜样品测试(数量5个),尺寸直径≤10mm

0打赏

3 点赞

主帖获得的天涯分: 55.71
楼主发言:197次 发图:0张 |
朋友图片表情草稿箱

您还可以保存份草稿

帮助
    草稿箱介绍:
    ·每个草稿箱可保存50份草稿
    ·草稿需要手动保存
    ·审核不通过的帖子也会打回到草稿箱中
    ·草稿只保存标题和正文(专辑、投票等内容不做保存)
    ·草稿箱如果存满请手动删除

    希望小小的功能能给您带来一些些帮助

    ——致力关心网友的涯叔

    请遵守天涯社区公约言论规则,不得违反国家法律法规

    点赞列表

    x
    共有人点赞

      本楼点赞抽钻记录

      x

      埋了

      人抽中

        收藏本帖 搬砖回复 回到顶部
        最新红包
          码字不容易,亲,赏点给些动力吧!